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透射电子显微镜原位-原子尺度双倾力学测试系统
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产品简介

INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)。

产品介绍:

BST-INSTEMS-M使用的MEMS集合精密的芯片结构与压电驱动器,力学加载方向与双倾台平面平行。高精度力学驱动(0.1nm等级驱动)与双倾系统互不干扰,能在力学加载的同时稳定的观察高质量原子尺寸的像。另外,可根据客户需求配置不同结构的芯片,满足不同尺寸形状不同加载模式力学实验要求。

突出优势:

1、多种力学加载模式:

拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳

自动/手动/循环加载

牛顿级驱动器(> 100 mN)

pm级驱动控制

2、双轴倾转:

α 轴倾转**至±20°

β 轴倾转**至±10°

3、稳定的原子尺度成像:

极限样品漂移<50 pm/s

空间分辨率≤0.1 nm

技术指标

**驱动力

> 100 mN

**驱动范围

4 μm

驱动精度

< 500 pm

空间分辨率

≤0.1 nm

应用领域

高强钢

纳米线

高强铝合金

钛合金

纳米薄膜

……

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